为什么X射线荧光镀层测厚仪有时会出现测量误差？

测量对象引入的测量误差主要包括以下几方面：

1、覆盖层厚度的影响

2、基体金属磁性的影响

3、基体金属厚度的影响

4、材料的边缘效应的影响

5、基体金属机械加工方向的影响

6、基体金属剩磁的影响

7、基体金属曲率的影响

8、基体金属表面粗糙度的影响

对上述因素产生的测量误差分析如下：

1、对于较薄的覆盖层，由于受X荧光镀层测厚仪本身测量精度和覆盖层表面粗糙度的影响，较难准确测量覆盖层厚度，尤其是当覆盖层厚度小于5μm的情况；对于较厚的覆盖层，其测量结果相对误差近似为一常数，误差随覆盖层厚度增加而增大。

2、不同铁磁性材料或同一铁磁性材料采用不同的热处理方式和冷加工工艺后，其磁特性均有较大差异，而材料的磁特性差异会直接影响对磁铁或检测线圈的磁作用，为减小或消除磁特性差异产生的影响，应采用磁特性与试样基体相同或相近的金属材料做为基体对仪器校准。

3、由于磁场在铁磁性基体材料中的分布状态在一定范围内与基体厚度密切相关，当基体厚度达到某临界厚度时，这种影响才能减小或忽略。若试样基体厚度小于临界厚度时，应通过化学方法除去试样的局部覆盖层，利用试样基体对仪器校准。

X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数：多至5层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间：通常35秒-180秒。

5. 样品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

产品参数：

· X射线光管  微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

本文出自东莞市澳腾斯仪器有限公司，转载请注明出处！更多澳腾斯地板类检测设备相关资讯请访问：www.aotsichina.com

24小时热线电话：13712277050