GB/T 16921-2005X荧光镀层测厚仪

操作机理：

覆盖层单位面积质量（若谜底已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。对于任何实际的仪器系统，该关系首先已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

荧光强度是元素原子序数的函数，如果表面覆盖层、中间覆盖层（如果存在）以及基体是由不同元素组成或一个覆盖层由不止一个元素组成，则这些元素会产生各自的辐射特征。可调节适当的检测器系统以选择一个或多个能带，使此设备既能测量表面覆盖层又能同时测量表面覆盖层和一些中间覆盖层的厚度和组成。

X荧光镀层测厚仪测试报告应包括下列内容：

1.本标准的编号；

2.试样的准确标识；

3.测量日期；

4.试样上测量位置；

5.平均每份报告的测量次数；

6.如果两尺寸不同，要标明准直器孔径和测量面积大小；

7.测量数值；

8. 用于X荧光厚度计算的密度值及使用理由；

9.报告的测量值具有代表性的标准偏差；

10.与本标准方法的差别:

11.可能影响报告结果解释的因素:

12.实验室名称和操作者姓名；

13.蕞近期的校准证书或其他可接受的参考标准块的使用及溯源。

X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数：多至5层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间：通常35秒-180秒。

5. 样品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

产品参数：

· X射线光管  微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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