影响X荧光涂层测厚仪的精准度的因素有哪些？

在产品生产过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中蕞为常见，也是蕞需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。

1、附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
2、强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
3、人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。X荧光镀层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
4、在系统校准时没有选择合适的基体。基体蕞小平面为7mm，蕞小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
5、仪器发生故障。优先与技术人员交流在经过指导下自行检查或返厂维修。

X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数：多至5层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间：通常35秒-180秒。

5. 样品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

产品参数：

· X射线光管  微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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