X荧光镀层测厚仪的基本工作原理

X荧光镀层测厚仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，X荧光镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

工业X射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、环保、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来X射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。*，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素X射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。

X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数：多至5层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间：通常35秒-180秒。

5. 样品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

产品参数：

· X射线光管  微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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