ASTM B568-2014X射线荧光分析测厚仪

一、意义和用途

1.这是一种灵敏，非接触和非破坏性的方法，用于测量金属和一些非金属涂层的涂层厚度（在某些情况下，涂层成分），厚度范围从0.01微米到75微米不等，具体取决于涂层和基底材料。它可用于测量不易通过其他技术测量的涂层和碱组合。

2.涂层厚度是使用中涂层性能的重要因素。

二、范围

1.该试验方法包括使用X射线光谱法测定金属和一些非金属涂层的厚度。

2.给定涂层的最大可测量厚度是厚度，超过该厚度，来自涂层或基板的特征二次X辐射的强度不再对厚度的微小变化敏感。

3.该测试方法测量每单位面积的涂层质量，如果已知涂层的密度，也可以用线性厚度单位表示。

4.本试验方法不包括人员防止X射线管产生的辐射或放射性同位素源发出的问题。有关这一重要方面的信息，应参考国家辐射防护和测量委员会，联邦登记处，核管理委员会，国家标准与技术研究所（原国家标准局）的现有文件，并说明和如果存在，则为本地代码。

5.本标准无意解决与其使用相关的所有安全问题（如果有的话）。本标准的使用者有责任建立适当的安全和健康实践，并在使用前确定法规限制的适用性。

X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数：多至5层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间：通常35秒-180秒。

5. 样品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

产品参数：

· X射线光管  微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

本文出自东莞市澳腾斯仪器有限公司，转载请注明出处！更多澳腾斯地板类检测设备相关资讯请访问：www.aotsichina.com

24小时热线电话：13712277050