ISO3497-2000X射线荧光分析测厚仪

ISO3497-2000金属镀层 镀层厚度的测量 X射线光谱测定法。

试验基础：

涂层单位面积的质量（如果密度已知,则为线性涂层厚度）与二次辐射强度之间存在关系。对于任何实际的仪器系统，这种关系首先是通过使用单位面积具有已知质量涂层的校准标准进行校准来建立的。如果已知涂层材料密度,则此类标准可以以线性厚度单位给出涂层,前提是也给出了实际密度值。

注：涂层材料密度是涂层的密度，X射线荧光镀层测厚仪在测量时可能是也可能不是涂层材料的理论密度。如果该密度与校准标准的密度不同，则应使用反映该差异的系数并记录在试验报告中。

荧光强度是元素原子序数的函数。如果顶涂层、中间涂层（如果有）和基底由不同的元素组成或涂层由多个元素组成，则这些元素将为每个元素产生辐射特性。一个合适的探测器系统可以调整以选择一个或多个能带，使设备能够同时测量顶部涂层或顶部和一些中间涂层的厚度和/或成分。

试验报告应包括以下信息：

1、参考本国际标准，即ISO 3497；

2、明确鉴定试样；

3、测量日期；

4、试样上的测量位置；

5、每次报告测量的平均测量次数；

6、准直器孔径大小和测量区域大小（如果不同）；

7、测量值；

8、用于厚度计算的密度和所用值的合理性；

9、代表报告测量值的标准偏差；

10、与本ISO试验方法的任何偏差；

11、可能影响报告结果解释的任何因素；

12、操作人员和检测实验室的名称；

13、所用校准或其他可接受参考标准的蕞新认证日期及其可追溯性。

X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

产品参数：

· X射线光管  微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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